半导体全自动探针台，高精度，低重心运动平台稳定性高，人性化GUI软件系统，和高兼容性，灵活搭配行业内常见的各种测试机。

SKD3000,全自动探针台适用于:6寸、8寸、12寸晶圆的WAT/CP全自动测试，主要应用于数字/模拟/混合集成电路MEMS、汽车电子/电源等类型芯片的电性能测试、可靠性测试、失效分析等。

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